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X 射线粉末衍射图谱分析软件

JADE

X 射线衍射图谱分析软件

面向 X 射线粉末衍射数据,支持图谱处理、物相检索、全谱拟合与结构可视化。

  • 物相检索
  • WPF 与 Rietveld
  • 图谱模拟
  • 结构可视化
JADE Pro XRD 图谱分析界面

产品介绍

Product Overview

JADE 是一款面向 X 射线粉末衍射数据的分析软件。不同 Standard 等级可覆盖基础图谱处理、物相检索以及 WPF 与 Rietveld;JADE Pro 进一步包含批处理、图谱索引、结构精修、聚类分析和 Toolkit。具体功能应以采购版本为准。

  • XRD 实验人员
  • 材料分析研究人员
  • 晶体结构分析人员
  • 粉末衍射数据处理团队

软件特征

Software Features

覆盖主要厂商图谱文件

软件可读取主要衍射仪厂商的图谱文件,并处理可变或固定狭缝数据。

按版本组合分析能力

Standard 可按等级组合基础、物相检索及 WPF 与 Rietveld 功能。

支持模拟与三维显示

可由晶体结构模拟粉末图谱,并以三维方式查看结构。

Pro 提供扩展工具集

Pro 资料列出批处理、索引、结构求解、聚类分析和多类 Toolkit 工具。

主要功能

Main Functions

图谱读取与基础处理

读取不同设备来源的粉末衍射图谱,执行峰搜索、背景处理和图谱显示。

  • 读取主要厂商图谱文件
  • 自动峰搜索与多过滤检索
  • 背景拟合与 Kα2 处理
  • 多图谱叠加与显示
JADE Standard 功能与版本分层原厂资料页

物相检索与图谱匹配

使用参考数据库和检索条件识别物相,并处理次要或痕量相相关检索。

  • 轮廓型 Search/Match
  • 化学与晶胞条件过滤
  • 主要、次要和痕量相检索
  • 结构与参考图谱调用
JADE Pro 界面与 Toolkit 原厂资料页

WPF 与 Rietveld 分析

通过全谱拟合与 Rietveld 精修组织相含量、晶胞和结构参数分析。

  • 全谱拟合与批处理
  • Rietveld 结构精修
  • 相含量相关定量分析
  • 晶胞和轮廓参数处理
JADE Standard WPF 与 Rietveld 功能说明

结构模拟与扩展工具

JADE Pro Toolkit 提供图谱数字化、结构求解、微结构分析、聚类和面积探测器数据提取等工具。

  • 粉末图谱与 Laue 模拟
  • Charge Flipping 与模拟退火
  • 晶粒尺寸和微应变分析
  • 图谱聚类与树状图显示
JADE Pro Toolkit 多种分析工具原厂资料页

应用领域

Application Areas

粉末衍射图谱处理

用于 XRD 图谱读取、峰搜索、背景处理和显示。

物相鉴定

用于参考数据库检索和单相、多相图谱匹配。

相含量分析

用于 WPF 与 Rietveld 相关的相含量分析流程。

晶体结构精修

用于晶胞、原子参数及结构约束相关精修。

微结构分析

用于晶粒尺寸、微应变和残余应力相关分析。

批量图谱比较

用于批处理、聚类和多图谱相似性比较。

常见问题

Frequently Asked Questions

JADE 可读取哪些设备数据?

支持读取主要厂商图谱文件;具体格式清单需按采购版本确认。

Standard 是否都包含物相检索?

不是。 Standard 分为不同等级,物相检索位于 2A 或 3。

哪些版本包含 WPF 与 Rietveld?

Standard 2B 或 3,以及 JADE Pro包含 WPF 与 Rietveld。

JADE Pro 有哪些扩展工具?

支持图谱索引、结构精修、聚类、微结构、面积探测器、图谱数字化等工具。

数据库是否随软件提供?

不同数据库与版本组合未统一确认,应在采购前核对数据库许可与更新条件。